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PST6747A半導體測試系統

用途

博電科技PST6747A半導體測試系統是一款測量與分析功率半導體器件I-V特性的專用儀器,能 在3kV (可擴展為10kV)和2200A的條件下實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。 PST6747AM有快脈沖能力,以及亞p##電流檢測能力,并具有優異的寬電壓和電流測量能力。

這些功能能夠對最新的器件(例如IGBT)和新型材料(例如GaN和SiC)進行測量。

PST6747A由多個獨立的高精度源組成,包括P6701B 3kV高壓高精度源、P6703B高精度源和 P6705A 2200AX電流源等組成。

每個功率源模塊上配備兩個獨立的模數(AD)轉換器支持2μs采樣率,每個模塊上的驅動能夠獨立精確控制,對有可能影響器件特性的關鍵參數進行精確監測。

對于測量功率器件和電源電路,該儀器更便于使用,有更好的數據分析能力,同時利用 博電科技自主研發的軟件也簡化了對測量數據的管理,能夠依據用戶的需求進行定制,讓用戶有 更好的使用體驗。


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